Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.advisorYavuz, Metin
dc.contributor.authorErgüzeloğlu, Ebru
dc.date.accessioned2020-07-21T21:30:27Z
dc.date.available2020-07-21T21:30:27Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.urihttp://libra.omu.edu.tr/tezler/131249.pdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12712/26403
dc.descriptionTez (yüksek lisans) -- Ondokuz Mayıs Üniversitesi, 2019en_US
dc.descriptionLibra Kayıt No: 131249en_US
dc.description.abstracten_US
dc.formatX, 74 yaprak. : şekil. ; 30 sm.en_US
dc.language.isoturen_US
dc.publisherOndokuz Mayıs Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectX-ışını kırınımıen_US
dc.subjectKristalleren_US
dc.subject.otherTEZ YÜK LİS E67c 2019en_US
dc.titleC21H26FNO, C32H46N2O2 ve C22H28INO moleküllerinin x-ışınları ve bazı spektroskopik yöntemlerle özelliklerinin incelenmesi / Ebru Ergüzeloğlu ; Danışman Metin Yavuz.en_US
dc.typemasterThesisen_US
dc.contributor.departmentOMÜ, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Anabilim Dalıen_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US]


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster